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Sistema para test de semiconductores con elevada densidad de canal

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El novedoso sistema para test de semiconductores con elevada densidad de canal SMU PXI titulado PXIe-4163 permite utilizar el mismo instrumento en laboratorios y centros de producción con excelentes resultados.

Sistema para test de semiconductores con elevada densidad de canalNational Instruments ha anunciado la unidad de medida de fuente (SMU) de alta densidad PXIe-4163, que sextuplica la densidad de canal DC en comparación con modelos NI PXI SMU previos para testar RF, MEMS y señal mixta y otros componentes semiconductores analógicos.

El sistema para test de semiconductores SMU PXIe-4163 incrementa la densidad de canal DC para hacer frente a la demanda de aplicaciones multi-sitio y mediciones en laboratorio. Ahora, los ingenieros se pueden beneficiar de numerosas mejoras con un solo instrumento para laboratorio y centros de producción y, por lo tanto, contribuyen a reducir el tiempo de llegada al mercado.

“Las tecnologías disruptivas, como 5G, Internet de las Cosas y vehículos autónomos, aumentan la presión a los fabricantes de semiconductores a la hora de adoptar enfoques más eficientes en los test, desde el laboratorio al centro de producción”, comenta Eric Starkloff, Vicepresidente Ejecutivo de Ventas y Marketing de NI. “Nuestra compañía está centrada en las pruebas de semiconductores y, por ello, ampliamos las capacidades de la plataforma de software y PXI. Con la nueva SMU PXI ayudamos a los productores de chips a cumplir sus objetivos”.

Los profesionales pueden usar la SMU PXIe-4163 de National Instruments en configuraciones STS o sistemas PXI autónomos.

Las principales características incluyen hasta veinticuatro canales en un solo slot PXI Express, ±24 V por canal, hasta 100 mA de fuente por canal, sensibilidad de corriente de 100 pA, ratio de muestra de hasta 100 kS/s, SourceAdapt para minimizar las oscilaciones, configuración interactiva y software de depuración y hasta 408 canales SMU de alta precisión en un chasis PXI (4U de espacio de rack).

Background del Sistema para test de semiconductores con elevada densidad de canal

Introducido en 2014, el STS aporta un enfoque diferente en los test de producción de semiconductores. Se basa en la plataforma PXI de NI que permite a los ingenieros crear sistemas de pruebas más inteligentes.

La plataforma PXI integra transceptores de señal vectorial con ancho de banda de 1 GHz, SMU clase-fA, software de gestión de test off-the-shelf comercial y más de seiscientos productos PXI de DC a mmWave.

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