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Optimizar las medidas en obleas

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Optimizar las medidas en obleas

Agilent Technologies y Cascade Microtech anuncian una alianza estratégica para ofrecer soluciones de medida de radiofrecuencias totalmente configuradas y validadas para optimizar las medidas en obleas que mejoren las medidas de semiconductores en formato obleas al tiempo que proporcionen una configuración, una instalación y una asistencia técnica garantizadas.

Especificar y configurar un sistema de medidas de radiofrecuencias en obleas puede resultar difícil y llevar demasiado tiempo. Además, a menudo es necesario obtener equipos de distintos proveedores que luego el cliente debe configurar y verificar en sus propias instalaciones. Esto conlleva dedicar mucho tiempo antes de ni siquiera poder tomar la primera medida.

Con las soluciones para optimizar las medidas en obleas de Agilent y Cascade Microtech, los clientes del sector de los semiconductores disponen ahora del equipo que necesitan para realizar de forma precisa y repetible medidas de DC y RF, caracterización de dispositivos y modelado, y además acortando los tiempos para tomar la primera medida.

Las nuevas soluciones para optimizar las medidas en obleas combinan las estaciones de sondeo de obleas, las sondas y las herramientas de calibración de Cascade Microtech con la instrumentación de pruebas y el software de medida y análisis de Agilent.

La configuración de cada solución se valida de antemano para garantizar que satisface las necesidades de aplicación específicas de los clientes, y luego vuelve a validarse (en función de los criterios de aceptación acordados previamente) tras la instalación por parte de los expertos en soluciones de Cascade Microtech. Por “configuración garantizada” se entiende que Agilent o Cascade Microtech proporcionarán gratuitamente cualquier pieza que falte en la solución configurada.

Software para optimizar las medidas en obleas

Asimismo, Agilent y Cascade Microtech han colaborado para ofrecer un exclusivo software de soluciones de flujo de trabajo basado en el software de medida WaferPro-XP de Agilent. Junto con el software de sondeo Velox de Cascade Microtech, ahora los clientes pueden desarrollar series completas de pruebas en obleas para cubrir diversas necesidades de medida. Esta combinación de software proporciona un entorno coherente para el desarrollo de las pruebas.