Los fotorelés compactos TLP3407SRB para alta temperatura combinan funcionamiento de hasta 135 °C, resistencias de entrada integradas y encapsulado S-VSON4T de 1,45 x 2,0 mm para equipos avanzados de test y medida.
El nuevo TLP3407SRB de Toshiba es un fotorrelé accionado por tensión diseñado para aplicaciones de test y medida que requieren alta densidad de integración y funcionamiento fiable a temperatura elevada.
Diseño térmico y ahorro de espacio en TLP3407SRB
La nueva familia también incluye los modelos TLP3412SRB, TLP3412SRHB y TLP3412SRLB.
Todos ellos admiten una temperatura máxima de funcionamiento de 135 °C, superando el umbral habitual de 125 °C en productos equivalentes.
Esta capacidad resulta especialmente útil en comprobadores de semiconductores para automoción, sistemas burn-in y tarjetas probe card sometidos a elevadas cargas térmicas.
Además, el encapsulado S-VSON4T con dimensiones típicas de 1,45 x 2,0 mm facilita montajes de alta densidad en placas con espacio muy limitado.
La integración de resistencias de entrada permite excitación directa por tensión y evita el uso de resistencias externas en el circuito.
Así, los diseñadores pueden reducir el número de componentes y liberar superficie útil en la PCB.
Conmutación rápida y fiabilidad para instrumentación de medida
En el caso del TLP3407SRB, la corriente en estado ON alcanza 1 A.
Por su parte, los modelos TLP3412SRB, TLP3412SRHB y TLP3412SRLB aportan capacidad de conmutación con baja resistencia en estado ON y tiempos de respuesta rápidos.
Estas prestaciones favorecen su uso en equipos donde la conmutación de alta velocidad y la fiabilidad son parámetros críticos.
El enfoque de estos fotorelés responde a las necesidades de diseño de instrumentación avanzada y plataformas de prueba asociadas a electrificación y conducción autónoma.
Gracias a su combinación de formato compacto, simplificación del circuito de entrada y tolerancia térmica mejorada, la serie ayuda a resolver restricciones de espacio y disipación en sistemas de nueva generación.
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