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Capacidad digital ATE en PXI

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Capacidad digital ATE en PXINational Instruments, proveedor de sistemas basados en plataforma que permiten a los ingenieros y científicos resolver los mayores retos de ingeniería del mundo, anuncia el instrumento de patrones con capacidad digital ATE en PXI PXIe-6570 y el Digital Pattern Editor.

Este producto libera a los fabricantes de RFIC, circuitos de gestión de potencia, dispositivos de MEMS y circuitos de señal mixta de las arquitecturas cerradas del equipo de prueba automatizada de semiconductores convencionales.

Los requisitos de los últimos dispositivos de semiconductores suelen dejar rezagada a la cobertura de pruebas que ofrece el sistema ATE tradicional. Al incluir el paradigma de la prueba digital establecida en el sector de semiconductores a la plataforma PXI abierta utilizada en el Semiconductor Test System (STS), y al modernizarlo con un depurador y editor de modelos fácil de utilizar, los clientes pueden aprovechar los modernos instrumentos con capacidad digital ATE en PXI para ayudar a reducir costes y aumentar el rendimiento para CI analógicos-céntricos y de RF.

Detalles con la capacidad digital ATE en PXI

El instrumento de patrones digitales PXIe-6570 ofrece la capacidad de prueba necesaria para los circuitos integrados que se suelen encontrar en la cadena de suministro de dispositivos inalámbricos y los dispositivos de Internet de las Cosas IoT con un precio económico por pin.

Incluye una ejecución de patrones de 100 Mvectores por segundo con motores de captura y origen independiente y funciones paramétricas de corriente/tensión con hasta 256 pines digitales sincronizados en un solo subsistema. Los usuarios pueden aprovechar la apertura de PXI y el STS para añadir tantos dispositivos como se necesiten para cumplir el recuento de sitios y pines del dispositivo en la configuración de la prueba.

El nuevo software Digital Pattern Editor integra entornos de edición para modelos, especificaciones y mapas de pines de dispositivos para desarrollar planes de prueba de forma más rápida; herramientas integradas como la explosión de modelos de multi instrumentos y multi sitios para ampliar desde el desarrollo a la producción sin problemas; y herramientas como shmoo plots y una vista de pines interactiva para depurar y optimizar pruebas con más eficacia.

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