Las nuevas plataformas WBG plug‑and‑play Quasar200 y Pulsar600 aceleran la caracterización de dispositivos de potencia con ±0,1 % de exactitud, inducción parásita típica < 30 nH y pruebas de cortocircuito hasta 1.000 A DC y >10.000 A AC, optimizando flujos de trabajo en laboratorios y desarrollo de producto.
Los nuevos Quasar200 y Pulsar600 de Microtest Group llegan como plataformas de test y caracterización para semiconductores WBG (Wide Bandgap, banda prohibida ancha) orientadas a investigación y a ingeniería de producto.
Su diseño procede de la filial británica ipTEST, con una arquitectura lista para usar que reduce operaciones manuales y agiliza la puesta en marcha.
El enfoque plug‑and‑play minimiza la necesidad de utillaje a medida y elimina soldaduras y cableados complejos en bancos de prueba.
El alcance de medida cubre tensión y corriente en régimen DC y AC con una exactitud de hasta ±0,1 % en todas las formas de onda.
La cadena de calibración con trazabilidad UKAS y el registro de auditoría garantizan consistencia, repetibilidad y conformidad desde el laboratorio hasta la línea de producción.
Caracterización de Si, GaN y SiC con baja inductancia parásita
Quasar200 admite evaluación de dispositivos Si, GaN y SiC mediante medidas rápidas y precisas con inducción parásita típica por debajo de 30 nH en ensayos AC.
La arquitectura reduce la interferencia de interconexión y mejora la correlación con verificadores de producción.
El diseño de zócalos de prueba de baja inductancia y la compatibilidad con muestra encapsulada o bare die simplifican la preparación de ensayos.
La documentación de resultados facilita la generación de hojas de datos con evidencia medible y repetible.
Quasar200 y Pulsar600 en validación de potencia automotriz
Pulsar600 extiende la capacidad de corriente a aplicaciones de muy alto pulso, idóneas para inversores SiC y sistemas de tracción.
El sistema soporta pruebas de cortocircuito hasta 1.000 A en DC y más de 10.000 A en AC para eventos transitorios de validación.
La protección SocketSafe y el recinto totalmente cerrado con enclavamientos reducen riesgos para el operario y el equipamiento durante ensayos destructivos.
La integración de registros completos de prueba favorece el análisis posterior y la trazabilidad de cambios en diseño.
Flujos de trabajo reproducibles con enfoque plug‑and‑play
La plataforma entrega resultados con precisión trazable sin dependencia de configuraciones ad‑hoc de laboratorio.
El interfaz operativo estandariza procedimientos, acorta la curva de aprendizaje y mejora la repetibilidad entre turnos y ubicaciones.
La modularidad facilita la reconfiguración para diferentes encapsulados y condiciones de estrés eléctrico con tiempos de cambio reducidos.
La combinación de precisión metrológica y seguridad operativa aporta confianza en validación de dispositivos de nueva generación.
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