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Chip de señal mixta controlable por JTAG

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Chip de señal mixta controlable por JTAG GOEPEL ha anunciado el primer Tester-on-Chip (ToC) controlable por JTAG con arquitectura de señal mixta. Este chip de señal mixta posee canales de test single-ended y diferenciales que se caracterizan por un interface Boundary Scan compatible con IEEE Std. 1149.1, IEEE Std.1149.6 o IEEE Std.1149.8.1 (con una frecuencia TCK máxima de 100 MHz).

Todos los canales se pueden acoplar con numerosos instrumentos analógicos y digitales. Como consecuencia, el CION LX puede soportar quince operaciones de test y medición estáticas y dinámicas en cada canal.

Además de funcionalidades Boundary Scan clásicas, el ToC ofrece generación de forma de onda, grabación de señal analógica, medición de frecuencia digital y detección toggle.

Junto a características de interface programable, como slew rate o pull up / down, el CION LX proporciona configuraciones de señal extremadamente flexibles y, por lo tanto, la universalidad necesaria.

“El nuevo CION LX ayuda a crear un sistema de test de bajo coste escalable y universal que se puede integrar en los ecosistemas JTAG existentes, cubriendo las tareas de test y medición analógicas y digitales”, afirma Heiko Ehrenberg, Responsable Tecnológico de Acceso de Sistemas Embebidos (ESA) de GOEPEL.

El CION LX ha sido desarrollado en tecnología CMOS de señal mixta de 0.35 µm y cuenta con cuatro puertos I/O independientes, cada uno de ellos con un rango de tensión de 0.9 a 3.6 V.