{"id":1845,"date":"2012-05-04T10:38:17","date_gmt":"2012-05-04T08:38:17","guid":{"rendered":"http:\/\/www.diarioelectronicohoy.com\/blog\/?p=1845"},"modified":"2019-06-13T19:36:41","modified_gmt":"2019-06-13T17:36:41","slug":"analizador-digital-de-senales","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/www.diarioelectronicohoy.com\/blog\/analizador-digital-de-senales","title":{"rendered":"Analizador Digital de Se\u00f1ales"},"content":{"rendered":"<h1><span style=\"color: #000080; font-size: 18px;\">Introducci\u00f3n.<\/span><\/h1>\n<p style=\"text-align: justify;\">Cuando un t\u00e9cnico en electr\u00f3nica lleva cierto tiempo realizando proyectos, sin duda, llega un punto en que, se plantea c\u00f3mo conocer el estado de una se\u00f1al en un punto concreto del circuito y sobre todo en el preciso momento, posterior a un evento. Es decir, en un circuito en funcionamiento.<\/p>\n<p style=\"text-align: justify;\">Naturalmente, un t\u00e9cnico, cuando tiene necesidad de saber el <strong>estado<\/strong> de una se\u00f1al digital en un punto del circuito, se ayuda de una sonda digital.<!--more--><\/p>\n<p style=\"text-align: justify;\">En primer lugar dir\u00e9 que, esa idea me surgi\u00f3, al tratar de describir c\u00f3mo funciona el I2C-bus. Tampoco creo necesario, abordar la construcci\u00f3n de un analizador digital capaz de competir con uno comercial, no es ese el caso. Se trata de, escrutar las posibilidades que tenemos a nuestro alcance, para la realizaci\u00f3n de una sonda l\u00f3gica que nos ayude a \u00abver\u00bb lo que ocurre a la salida de un IC.<\/p>\n<p style=\"text-align: justify;\">Por supuesto que, una sonda digital incluso auto-construida, nos puede servir para conocer el estado del punto a examinar. Esto ya se coment\u00f3 en la entrada <a title=\"La Sonda L\u00f3gica\" href=\"https:\/\/www.diarioelectronicohoy.com\/blog\/leccion-2-2\" target=\"_blank\" rel=\"noopener noreferrer\">la sonda l\u00f3gica<\/a>, aunque de forma sencilla, se describen los puntos m\u00e1s importantes. Una sonda, no debe influir en la se\u00f1al bajo revisi\u00f3n, para ello, la cargar que representa debe ser m\u00ednima y debe absorber el m\u00ednimo de la se\u00f1al a monitorizar.<\/p>\n<p style=\"text-align: justify;\">El problema surge, cuando nuestra necesidad, consiste en \u00abver\u00bb distintos puntos o E\/S de un IC, al mismo tiempo, comprendemos que la sonda digital, se queda corta y se hace necesaria la ayuda de una sonda digital de m\u00e1s E\/S, esto es, un analizador digital.<\/p>\n<p style=\"text-align: justify;\">\u00a1Es muy sencillo de usar! \u00bfCual es el problema? El m\u00e1s importante, su costo. En muy pocas situaciones se compensa el desembolso que representa un analizador digital comercial. Es cierto que hay sistemas que se ayudan de un programa que corre en un PC y unos cables (personalmente no lo he probado), por lo que no puedo dar mi opini\u00f3n al respecto.<\/p>\n<p style=\"text-align: justify;\">Realmente, quiero una \u00abcaja negra\u00bb que me muestre el estado de un byte, a la entrada de un circuito integrado. Esto, no es un analizador l\u00f3gico (aunque aquel, puede mostrarlo). Entonces, eso es lo que quiero, poder ver el estado de los bits de un byte.<\/p>\n<p style=\"text-align: justify;\">\u00a0As\u00ed que, lo que se trata es&#8230; como decirlo. &#8216;Captar&#8217; un paquete de datos en una transmisi\u00f3n y visualizar los bits que lo componen. Ya se que no suena f\u00e1cil, pero tengo una ligera idea que, o la acierto del todo o nada m\u00e1s lejos de la realidad.<\/p>\n<p style=\"text-align: justify;\">En estas estamos. He pensado en utilizar circuitos integrados de relativo costo. Surge un primer dilema, \u00bfque tecnolog\u00eda usar?, se disipa r\u00e1pidamente, siempre que se pueda tecnolog\u00eda HC o HCT. La utilidad que le pienso dar, en principio es en proyectos con micro-controladores, es decir, con circuitos que comportan se\u00f1ales paralelo y se\u00f1ales serie.<\/p>\n<h3>\u00a0<span style=\"color: #000080;\">La caja negra.<\/span><\/h3>\n<p style=\"text-align: justify;\">Le estoy dando vueltas a la idea de c\u00f3mo tomar una muestra de los datos que est\u00e1 procesando un I2C bus. Por lo pronto, he pensado en tomar los datos justo a las salidas A3\u00a0\u02dc A4, aun sin conectar el expansor de puertos PCF8574. La idea parece factible y he esquematizado la idea.<\/p>\n<p style=\"text-align: justify;\"><a href=\"https:\/\/www.diarioelectronicohoy.com\/blog\/imagenes\/2012\/05\/esq_analizador.gif\" target=\"_blank\" rel=\"noopener noreferrer\"><img loading=\"lazy\" decoding=\"async\" class=\"aligncenter  wp-image-1869\" title=\"esq_analizador\" src=\"https:\/\/www.diarioelectronicohoy.com\/blog\/imagenes\/2012\/05\/esq_analizador.gif\" alt=\"\" width=\"414\" height=\"211\" \/><\/a><\/p>\n<p style=\"text-align: justify;\">La se\u00f1al de los datos SDA, se introduce en las dos entradas A y B que, al tratarse de una NAND, se comportar\u00e1n como una sola, en el registro de desplazamiento de 8 bits como el <a title=\"74HC164\" href=\"http:\/\/www.hispavila.com\/3ds\/ics\/74hc164.zip\" target=\"_blank\" rel=\"noopener noreferrer\">74HC164<\/a>, serie-in &#8212; paralelo-out de alta velocidad.<\/p>\n<p style=\"text-align: center;\"><a href=\"https:\/\/www.diarioelectronicohoy.com\/blog\/imagenes\/2012\/05\/74hc164_diagrama.gif\" target=\"_blank\" rel=\"noopener noreferrer\"><img loading=\"lazy\" decoding=\"async\" class=\"aligncenter size-medium wp-image-1976\" title=\"74hc164_diagrama\" src=\"https:\/\/www.diarioelectronicohoy.com\/blog\/imagenes\/2012\/05\/74hc164_diagrama1-300x86.gif\" alt=\"\" width=\"300\" height=\"86\" srcset=\"https:\/\/www.diarioelectronicohoy.com\/blog\/imagenes\/2012\/05\/74hc164_diagrama1-300x86.gif 300w, https:\/\/www.diarioelectronicohoy.com\/blog\/imagenes\/2012\/05\/74hc164_diagrama1-500x144.gif 500w, https:\/\/www.diarioelectronicohoy.com\/blog\/imagenes\/2012\/05\/74hc164_diagrama1.gif 692w\" sizes=\"auto, (max-width: 300px) 100vw, 300px\" \/>Diagrama 74HC164<\/a><\/p>\n<p style=\"text-align: justify;\"><span style=\"color: #000080;\"><strong>05.05.2012<\/strong><\/span><\/p>\n<p style=\"text-align: justify;\">Esto, en teor\u00eda, deber\u00eda mostrar los distintos estados de los 8 registros que contiene el dispositivo HC164. Si en cada salida Qn, se conecta una resistencia en serie con un diodo LED, obtendremos una representaci\u00f3n del estado de cada bit.<\/p>\n<p style=\"text-align: justify;\">Esto parece demasiado sencillo, tiene que haber alg\u00fan problema oculto, nada es tan f\u00e1cil.<\/p>\n<p style=\"text-align: center;\"><a href=\"https:\/\/www.diarioelectronicohoy.com\/blog\/imagenes\/2012\/05\/analizador22.gif\" target=\"_blank\" rel=\"noopener noreferrer\"><img loading=\"lazy\" decoding=\"async\" class=\"aligncenter size-medium wp-image-1913\" title=\"analizador2\" src=\"https:\/\/www.diarioelectronicohoy.com\/blog\/imagenes\/2012\/05\/analizador22-300x190.gif\" alt=\"\" width=\"300\" height=\"190\" srcset=\"https:\/\/www.diarioelectronicohoy.com\/blog\/imagenes\/2012\/05\/analizador22-300x190.gif 300w, https:\/\/www.diarioelectronicohoy.com\/blog\/imagenes\/2012\/05\/analizador22-472x300.gif 472w, https:\/\/www.diarioelectronicohoy.com\/blog\/imagenes\/2012\/05\/analizador22.gif 734w\" sizes=\"auto, (max-width: 300px) 100vw, 300px\" \/>Prueba con simulador.<\/a><\/p>\n<p style=\"text-align: justify;\">\u00a1Ya est\u00e1! Cuando se inicie el analizador, cuantos pulsos tenemos que seleccionar?.<br \/>\nUn paquete, ser\u00eda la respuesta. Un paquete de 8 bit de reloj y, cortar la entrada. Para acto seguido mostrar la captura.<\/p>\n<p style=\"text-align: justify;\">Me gusta la idea, hay que pulirla. Aunque as\u00ed, s\u00f3lo veremos&#8230; Claro, es lo que queremos, veremos la direcci\u00f3n del dispositivo al que queremos (esclavizar) como \u00abesclavo\u00bb.<\/p>\n<p>\u00a0<strong><span style=\"color: #000080;\">07.05.2012<\/span><\/strong><\/p>\n<p style=\"text-align: justify;\">Estuve realizando algunas pruebas, primero con un contador\/divisor, luego combinaciones de puertas NAND, para llevar la cuenta de los 8 bits de entrada. Ninguna prueba soluciono el problema. Hasta que decid\u00ed utilizar una puerta puerta NOR, me vino a la memoria la forma como se comporta dicha puerta con dos entradas y me puse manos a la obra. Que suerte disponer de herramientas software para realizar dichas pruebas.<\/p>\n<p style=\"text-align: justify;\">Algunas veces uno se atasca, entonces, lo mejor es dejarlo y volver a ello en otro momento. Y esta es, la respuesta a mis indagaciones:<\/p>\n<p style=\"text-align: center;\"><a href=\"https:\/\/www.diarioelectronicohoy.com\/blog\/imagenes\/2012\/05\/analizador_con_divisor.gif\" target=\"_blank\" rel=\"noopener noreferrer\"><img loading=\"lazy\" decoding=\"async\" class=\"aligncenter size-medium wp-image-1942\" title=\"analizador_con_divisor\" src=\"https:\/\/www.diarioelectronicohoy.com\/blog\/imagenes\/2012\/05\/analizador_con_divisor-300x191.gif\" alt=\"\" width=\"300\" height=\"191\" srcset=\"https:\/\/www.diarioelectronicohoy.com\/blog\/imagenes\/2012\/05\/analizador_con_divisor-300x191.gif 300w, https:\/\/www.diarioelectronicohoy.com\/blog\/imagenes\/2012\/05\/analizador_con_divisor-470x300.gif 470w, https:\/\/www.diarioelectronicohoy.com\/blog\/imagenes\/2012\/05\/analizador_con_divisor.gif 763w\" sizes=\"auto, (max-width: 300px) 100vw, 300px\" \/>Esquema Analizador con divisor x 8<\/a><\/p>\n<p style=\"text-align: justify;\">\u00a0Ahora, debo hacer una prueba m\u00e1s, en la prueba pr\u00e1ctica, utilizar\u00e9:<\/p>\n<pre>1 - 74CH164P Registro de desplazamiento de 8 bits. \r\n1 - 74CH01P\u00a0\u00a0Cuatro puertas NOR de 2 entradas.\r\n8 - Diodos 1N4248 Diodos de alta velocidad.\r\n8 - Diodos LED de 3 mm.\r\n8 - Resistencias de 270\u03a9 1\/8 de W.<\/pre>\n<p style=\"text-align: justify;\">Esta prueba, la suelo realizar a menudo, por que siempre cabe la posibilidad de, la presencia de imponderables que dan al traste con las ideas sencillas. Les tendr\u00e9 informados de los resultados obtenidos. \u00bfSe le ocurre a alguien, alguna idea mejor?<\/p>\n<p><span style=\"color: #000080;\"><strong>10.05.2012<\/strong><\/span><\/p>\n<p style=\"text-align: justify;\">Siento haber demorado la continuidad, debido a asuntos personales. Tambi\u00e9n ha influido que no dispon\u00eda de los componentes activos necesarios y he tenido que utilizar los que tengo en el mercado de la ciudad.<\/p>\n<p style=\"text-align: justify;\">De modo que las pruebas las he tenido que realizar con circuitos integrados de la serie LS, en lugar de los HC, esto, no habr\u00e1 de suponer cambios en el comportamiento del esquema bajo an\u00e1lisis, sobre todo por que las velocidades no se ver\u00e1n afectadas.<\/p>\n<p style=\"text-align: center;\"><a href=\"https:\/\/www.diarioelectronicohoy.com\/blog\/imagenes\/2012\/05\/analizador-digital.jpg\" target=\"_blank\" rel=\"noopener noreferrer\"><img loading=\"lazy\" decoding=\"async\" class=\"aligncenter size-medium wp-image-1975\" title=\"analizador digital\" src=\"https:\/\/www.diarioelectronicohoy.com\/blog\/imagenes\/2012\/05\/analizador-digital-300x200.jpg\" alt=\"\" width=\"300\" height=\"200\" srcset=\"https:\/\/www.diarioelectronicohoy.com\/blog\/imagenes\/2012\/05\/analizador-digital-300x200.jpg 300w, https:\/\/www.diarioelectronicohoy.com\/blog\/imagenes\/2012\/05\/analizador-digital-447x300.jpg 447w, https:\/\/www.diarioelectronicohoy.com\/blog\/imagenes\/2012\/05\/analizador-digital.jpg 742w\" sizes=\"auto, (max-width: 300px) 100vw, 300px\" \/><\/a><\/p>\n<p>Este es el cableado del analizador l\u00f3gico con el 74LS164 y 74LS02.<\/p>\n","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>Introducci\u00f3n. Cuando un t\u00e9cnico en electr\u00f3nica lleva cierto tiempo realizando proyectos, sin duda, llega un punto en que, se plantea c\u00f3mo conocer el estado de una se\u00f1al en un punto concreto del circuito y sobre todo en el preciso momento, posterior a un evento. Es decir, en un circuito en funcionamiento. Naturalmente, un t\u00e9cnico, cuando [&hellip;]<\/p>\n","protected":false},"author":4,"featured_media":1912,"comment_status":"open","ping_status":"closed","sticky":false,"template":"","format":"standard","meta":{"_exactmetrics_skip_tracking":false,"_exactmetrics_sitenote_active":false,"_exactmetrics_sitenote_note":"","_exactmetrics_sitenote_category":0,"footnotes":""},"categories":[191,22,15],"tags":[196,195,197,192,194],"class_list":["post-1845","post","type-post","status-publish","format-standard","has-post-thumbnail","hentry","category-analizador-digital-de-senales","category-arduino","category-microcontroladores","tag-74hc164","tag-74ls164","tag-74ls90","tag-analizador","tag-sonda"],"aioseo_notices":[],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/www.diarioelectronicohoy.com\/blog\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/1845","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/www.diarioelectronicohoy.com\/blog\/wp-json\/wp\/v2\/posts"}],"about":[{"href":"https:\/\/www.diarioelectronicohoy.com\/blog\/wp-json\/wp\/v2\/types\/post"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.diarioelectronicohoy.com\/blog\/wp-json\/wp\/v2\/users\/4"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.diarioelectronicohoy.com\/blog\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=1845"}],"version-history":[{"count":70,"href":"https:\/\/www.diarioelectronicohoy.com\/blog\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/1845\/revisions"}],"predecessor-version":[{"id":4830,"href":"https:\/\/www.diarioelectronicohoy.com\/blog\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/1845\/revisions\/4830"}],"wp:featuredmedia":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.diarioelectronicohoy.com\/blog\/wp-json\/wp\/v2\/media\/1912"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/www.diarioelectronicohoy.com\/blog\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=1845"}],"wp:term":[{"taxonomy":"category","embeddable":true,"href":"https:\/\/www.diarioelectronicohoy.com\/blog\/wp-json\/wp\/v2\/categories?post=1845"},{"taxonomy":"post_tag","embeddable":true,"href":"https:\/\/www.diarioelectronicohoy.com\/blog\/wp-json\/wp\/v2\/tags?post=1845"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}