Asis Rodriguez

Switch RF para test y medición

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Switch RF para test y medición

Peregrine Semiconductor Corporation ha anunciado su switch RF PE42540 SP4T que, como una versión con tecnología de proceso UltraCMOS® (STeP5) ofrece un rango de frecuencia de 10 Hz a 8 GHz con baja pérdida de inserción de 0.8 dB @ 3 GHz, 1.0 dB @ 6 GHz y 1.2 dB @ 8 GHz.

Este switch con tecnología HaRP™ está especialmente indicado en aplicaciones que requieren un rendimiento RF extremadamente lineal y un ajuste rápido, como test y medición (T&M) y equipos de test automatizado (ATE).

El PE42540 posee cuatro puertos RF simétricos, con elevado aislamiento RFX a RFX de 45 dB @ 3 GHz, 39 dB @ 6 GHz y 31 dB @ 8 GHz. La lógica de decodificación CMOS on-chip facilita un interface de control CMOS de baja tensión y dos pines y una característica VSS externa opcional.

Además, este switch se distingue por una linealidad de 58 dBm IIP3, con tolerancia ESD de 2 KV HBM en RFC y de 1 kV HBM en el resto de pines. También dispone de una capacidad de gestión de potencia de entrada de 30 dBm @ 8 GHz en 50 Ohmios.

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